Микроскоп электронный ска-нирующий

Микроскоп электронный ска-нирующий — электронный микроскоп, действие которого заключается в последовательном обследовании поверхности пробы узким пучком электронов и регистрации упруго отраженных электронов или вторично возбужденных электронов с соответствующим преобразованием результатов регистрации и их передачи на монитор типа телевизионного экрана. С помощью М. э. с. определяется топо-графия поверхности минералов и пород с уве-личением порядка 102—105, а разреРис. 321. Поверхность карбонатной породы под электронным сканирующим микроскопом (увел. около 1200) шающая способность составляет 50— 20 нм, что позволяет получать высокую глубину резкости; также можно получать стереоскопические снимки (рис. 321).