Микроскоп стереоскопический

Микроскоп стереоскопический — поляриза- 70 ционный, дает объемное изображение объекта как в прохо дящем, так и отраженном свете. Предназначен для иссле дования в проходящем свете шлифов нормального и увели ченного размера и для исследования аншлифов в светлом поле при освещении их вертикальным или косым светом. Большое поле зрения позволяет изучать структурные соот-ношения сразу на всей поверхности аншлифа или шлифа без его перемещения, а большое предметное расстояние позво ляет производить различный манипуляции над объектом иссле-дования..’